Coupler综合测试系统
Coupler综合测试系统
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产品功能介绍
1. 一次接线，同时进行全带宽扫描测试和单点IL,PDL,RL,DIR测试，支持高低温测试.
2. 一拖四共享宽带光源和OSA光谱分析仪，节约硬件成本。
3. 兼容1X2, 2X2, 1X4 Coupler产品和WDM器件测试，自动测试并计算IL、WDL、PDL、RL、DIR、UL、TDL等参数。
4. 自动判定测试结果；所有数据通过SQL Server数据库海量保存，自动批量生成出货报表。
测试界面示意图
系统性能指标
参数 | 指标 | 单位 Unit | ||
最小值 | 典型值 | 最大值 | ||
工作波长 | 1260 | 1620 | nm | |
测试指标 | ITU IL/Min IL/Max IL/WDL/Ripple/TDL等参数 | |||
插损（IL）不确定度
| ±0.05（光纤熔接测试） | dB | ||
±0.1（连接头测试） | ||||
测量模式 | OSW扫描 | |||
单通道扫描时间 | 6-8(AQ6370，1250~1650nm，步距/step 0.1nm) | s | ||
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