功能介绍
1. 支持Bar条测试,可与自动化耦合握手,耦合对光完成之后自动进行扫描测试。
2. 支持不同类型的CWDM4(MUX和DEMUX)以及100G Lan WDM器件的扫描和全3、带宽的PDL测试,参数设置灵活,界面可视化、操作非常简便。
3. 支持多工位对可调光源进行实时并行共享扫描测试,工位互不干扰,无需排队等待(行业首创,百分百验证并有多家客户成功案例,每个工位扫描时间相同,并且申请了专利)。
4. 自动计算ITU IL、Min IL、Max IL、IL uniformity、Ripple、PDL、通道带宽和中心波长(1dB,3dB等)、Isolation、Slope、Crosstalk等参数。
5. 自动分析计算各种所需的测试参数结果和自动判定测试结果。
6. 失效参数自动区分并标识,使失效数据一目了然。
7. 系统软件兼容各种可调光源(Agilent,santec,uc等)和各种带trigger功能的功率计。
测试界面示意图
系统性能指标
参数 | 指标 | 单位 | ||
最小值 | 典型值 | 最大值 | ||
工作波长 | 1260 | 1360 | nm | |
测试指标 | IL/RIPPLE/PDL/ADJ/NADJ/CWL/BW/TDL/CROSSTALK | |||
插 损 | ±0.1(连接头测试) | db | ||
不确定度 | ±0.1 (connector test) | |||
测量模式 | 可 调光源+高速功率计 | |||
可测产品类型 | CWDM4(MUX/DEMUX),LAN-WDM,AWG |